毫米波掃瞄儀更智慧　邊緣運算助力影像管理(1)

毫米波掃瞄儀優於傳統金屬探測器的原因，在於其能辨識與定位出包括金屬與非金屬材質的威脅性物品。基於毫米波成像硬體元件的工作原理，晶片組有助於運用邊緣處理能力來管理龐大的資料負載，協助客戶開發人行安檢掃瞄系統。 在機場、公共建築以及體育場館運行的安檢掃瞄系統中，毫米波(mmWave)成像已成為相關設備的重要元件。毫米波掃瞄儀優於傳統金屬探測器的原因，在於其能辨識與定位出包括金屬與非金屬材質的威脅性物品。本文將說明毫米波成像硬體元件的工作原理，並說明晶片組如何運用邊緣處理能力來管理龐大的資料負載，協助客戶開發人行安檢掃瞄系統。 毫米波成像工作原理 圖1是毫米波掃瞄儀的工作方式，系統中包含發送器與接收器組成的陣列，對外則連接到採空間分散設置的天線陣列。這個系統的功能相當於用來量測回波損耗或S11參數的網路分析儀。在任何時間，陣列中的一個天線以單一頻率發射低功率訊號。訊號從目標反射回來並產生回波散，圖1中可看到回波是從目標的單一點反射回來，但實務上由於發射訊號是全方向性，因此回波會從目標上的多個位置點反射回來。 圖1　毫米波安全成像系統的工作方式 回波散射的相位與振幅，由陣列中的所有接收天線量測。傳送與接收天線之間可進行極化，藉此減少從發射端傳出的訊號沒有抵達目標物，就直接洩露到接收端的狀況。完成量測之後，相同的訊號會再從另一個發射天線傳送出去(在相同頻率工作)，完成之後再重複量測程序。 由於射頻訊號的穿透深度以及回波的反射性質都會隨著頻率而變化，因此上述的掃瞄程序通常是在一個寬廣頻段上挑選多個頻率重複進行。之後產出的向量矩陣會構成一個多維陣列(對比頻率與空間位置)，系統會以其描繪出一張圖像，用來辨識出被隱藏在衣物下的金屬與非金屬物體。 完成如此的掃瞄需要用到支援寬廣工作頻率範圍的多頻道硬體元件。10~40...